實驗室必知！一文區分X熒光光譜儀與火花直讀光譜儀（yí）

X熒光光譜（pǔ）儀與火花直讀（dú）光譜儀的（de）區別和聯係

分析原理（lǐ）：

X熒光光譜分析儀是（shì）利用高能量的X光，打擊試樣，使試樣中被測元（yuán）素的內（nèi）層電子被激發打走，次內層電子回落到內層，同時產（chǎn）生一個光子，這個光子（zǐ）具有特定的頻率，與其他原子同樣條件下產生（shēng）的光子不同，儀器再經（jīng）過光柵色散，把（bǎ）這一種元素產生的單色光分離出來，再利用一個光電管，把這一種光信號轉變為電信號，這（zhè）個電信號與試樣中被測物質的含（hán）量成一（yī）定的比例關係。但是這樣並不（bú）能（néng）獲得試樣中被測物質的（de）含量，還必（bì）須與標準試樣在同樣條件下獲得的電信號進行比較才能（néng）獲（huò）得試樣中被測物（wù）質（zhì）的百分含量。

熒光（guāng）光（guāng）譜儀原理，當能量高於原子（zǐ）內層電子結合能的高能X射線與原子發生碰撞時，驅逐一（yī）個內層電子而出現一個空穴，使整個原子體係處於不穩定的激發（fā）態（tài），激發態原子壽（shòu）命約為（10）-12-（10）-14s，然後自發地由能量高的狀態躍遷到能量（liàng）低的狀態，這個過程稱為馳豫（yù）過程。馳豫過程既可以（yǐ）是非輻射躍（yuè）遷，也可（kě）以是輻射躍遷。當較外層的電子躍遷（qiān）到（dào）空（kōng）穴時，所釋放的能量隨及在原子內部被吸收而逐出較外層（céng）的另一（yī）個次級光電子，此稱為俄歇（xiē）效應（yīng），亦稱次（cì）級光電效應或（huò）無輻射效應，所逐出的次級光電子稱為俄歇電子。

熒光光譜儀產品特點

儀器是由計算機控製，自動化水平高，分析速度快，它（tā）不需要像火花直讀光（guāng）譜那樣需要試樣具（jù）有導電性，所以可以完成非金屬試樣的分析，它可以同時完（wán）成多個被測元素或被測組分的（de）百分（fèn）含量，如Mg、Al、Zn、Mn、Si、Cu、Ni、Fe、Be、Sr、MgO、Al2O3、SiO2、CaO及稀土等可以同時（shí）完成。多數用戶的X熒光光譜（pǔ）分析儀隻是專門用來分析精礦粉、石灰、青石（shí）、白雲石（shí）、爐渣、溶劑等不導電的試樣。同時它也可（kě）以進行金屬（shǔ）材（cái）料等導電試樣的分析。其他特點與直讀光譜相同。

X射線熒光（guāng）直讀光譜（pǔ）儀可以分析粉末樣品、熔融（róng）樣品、液體樣品、固體樣品等（děng），非金（jīn）屬或金屬都可（kě）以分析。

火花直讀（dú）光譜儀隻能分析固（gù）體樣品，而且要求樣品是導電介質，簡單的說（shuō）就是分（fèn）析金屬固體樣品中的金屬或非金（jīn）屬元素。

（日本理學波長色散X射線熒光光譜儀）

最後說（shuō）說它們的精（jīng）度（分析正確度）

除了ICP以外，直讀光譜和X熒（yíng）光都依靠標準樣品的質量。如果，不能準備完全的標準（zhǔn）樣品，不（bú）可能（néng）得到標準偏差。標（biāo）準樣品是當然一定要沒有偏析，正確的標準值。