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  • 台式XRF鍍層測厚儀

日立(lì)FT110A台式(shì)XRF鍍層(céng)測厚儀,鋅層測厚儀

FT110A 是(shì)一(yī)款台式 XRF 分析儀,旨在應對生產中鍍層分析的挑戰。強大的 X 射線熒光技術與自動定位功能相結合,有助於提高電(diàn)鍍車間的生產力,同時確保組件符(fú)合嚴苛標準(zhǔn)。
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日立FT110A台式XRF鍍層測厚儀

FT110A 是一款台式 XRF 分析儀(yí),旨在應對生產中(zhōng)鍍層分析的挑戰。強大的 X 射(shè)線熒(yíng)光技術與自動定位功(gōng)能相結合,有助於提高電鍍車間的生產力,同時確保組件符(fú)合嚴苛標準。


準確性和可靠性是支持質量控製的 XRF 分析的核心,而 FT110A 可提供當今電鍍組件所需的準確性。更(gèng)新的成像係統、自動樣品定位和大樣品台使該分析儀非常易於使用,提高了通(tōng)量並減少了人為錯誤。功能強大的(de) FT110A 能夠同時測量多(duō)達四層以及(jí)基材(cái),將全天候支持您的設施滿足行業電(diàn)鍍規範。


技術(shù)規格(gé)


FT110A – 測量極小目標


FT110A 幫助諸多的行業確保符合電鍍規範,以避免出現性能低下的風險以及與廢料或返工相關的成本。此外,該儀器可(kě)減少一係列測量所需的時間,從而幫助提高生產力。


在(zài)任何質量(liàng)保證或質量控製係統中,準確(què)性和可靠性均至關重要,擁有改良(liáng)的 X 射線熒(yíng)光技術的FT110A將使您的(de)產(chǎn)品(pǐn)滿足最高標準的(de)行業規範要求。


借(jiè)助更新(xīn)的成像(xiàng)係統、全新的自動測量定位功能和大型樣品台,確(què)保這台鍍層分析儀易於使用並提高(gāo)分析效率。


基於Windows係統的(de)X-ray Station軟件提供直觀的用(yòng)戶界麵,用戶可對該儀器進行全麵控製。


通過將數據直接整合到 Microsoft™ Word和Excel中(zhōng)來簡化您的質量保證/質(zhì)量控製流程。


FT110A測厚(hòu)儀


為何如此多的實(shí)驗室(shì)改為使用 FT110A?


快速分析

強大的高靈敏度分析組件可以在數秒內測量鍍層厚度和(hé)成分。


無損

X 射線熒光是無損(sǔn)分(fèn)析過(guò)程,不留(liú)任何痕(hén)跡。即使是對敏感性材料,其測量也是安全的;同時無需丟棄被測量過的樣品。


多功能性(xìng)

FT110A 可以分析多達四層鍍層和(hé)基(jī)材。可以使用基本參數 (FP) 或(huò)經驗校準來測量鍍層和(hé)材料(liào)成分(如金屬合金或電鍍液)。


易於使用

培訓可(kě)輕鬆完成,因此任何人都可以操作(zuò) FT110A。隻需在工作台上設置(zhì)樣品,借(jiè)助友好的界麵指定測量區域,然後開始記錄讀數。用戶界麵可配置為僅顯示日常操作所需的功能。


快速分析(xī)

強大的高靈(líng)敏度分(fèn)析組件可以在數秒內測量鍍層(céng)厚度和成分。


兼容性

測量方法符合標準 ISO 3497、ASTM B568 和 DIN 50987。


FT110A操作簡單


產品亮點


專(zhuān)為高通量(liàng)生產而設計,來看(kàn) FT110A 如何支持您的質量控製。



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