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台式測厚儀

日立CMI730多功能分析（xī）測量儀（yí）

日立CMI730多（duō）功能分析測量儀

CMI730專門為要求在苛刻電鍍環境下實現可靠性的金屬（shǔ）版工、塗漆工和質量專業人員而（ér）設計。它的顯示在幾英尺之外也清晰可見，並且可幾乎任何角度查看。
FT160台（tái）式XRF適用於電子元件鍍層分析

FT160台式XRF適用於電子元件鍍（dù）層分析

FT160台式XRF鍍層測厚儀，旨在測量當今（jīn）PCB、半導體和微（wēi）連（lián）接器上的微小部件。準確、快速地測量（liàng）微小部件的能力有助於提高生產率（lǜ）並避免代價高昂的返工或元件（jiàn）報（bào）廢。
FT230：具有高級功（gōng）能的微（wēi）焦斑 XRF 用（yòng）於大批量鍍層分析

FT230：具有高級功能的微焦斑 XRF 用於大批量鍍層分析

FT230的每個設計元素均旨在減少（shǎo）完成XRF測（cè）量所需的時間，有助於更快地根據測試結（jié）果采取行動，減少浪費並提高工作效率。從根本（běn）上說，我們讓操作人員（yuán）與儀（yí）器的交互變得越來越簡單。
日立CMI760係列常規金屬測厚儀

日立CMI760係列常規金屬（shǔ）測厚儀

CMI760接受（shòu）多（duō）種探針類型，可滿足幾乎任何PCB應用，包括表麵銅和孔（kǒng）銅應用。
台式XRF鍍層測厚儀

日立FT110A台式XRF鍍（dù）層（céng）測厚儀，鋅（xīn）層測厚儀

FT110A是一款台式XRF分析儀，旨（zhǐ）在應對生產中鍍層分析的挑戰。強大的X射線熒光技術（shù）與自動定位功能（néng）相結合，有助於提高電鍍車間的生產力，同時確（què）保組（zǔ）件符合嚴苛標準。
日立X-Strata920 鍍（dù）層測厚儀（yí）

日立X-Strata920 鍍層測厚儀，台式（shì）XRF鍍層（céng）測厚儀

X-Strata920是一款（kuǎn）高精度台式XRF鍍層測厚儀，具有多種選擇，可容納多種類（lèi）型的（de）樣品。該分析儀非常適合測量各種基材上（shàng）的塗層，適合用於確定產品質量的電子產品、連接器、裝飾品和珠寶分析

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